Кандидат технічних наук, доцент кафедри комп’ютерних наук та системного аналізу Черкаського державного технологічного університету


Науково-педагогічна біографія

Закінчив у 2004 році Черкаський державний технологічний університет, спеціальність – інформаційні управляючі системи та технології, отримав кваліфікацію «інженер-системотехнік».

В період 2004-2007 навчався в аспірантурі за спеціальністю 05.13.06 – “Інформаційні технології”.

З 2004 року асистент кафедри комп’ютерних технологій ЧДТУ.

З 2011 року старший викладач кафедри комп’ютерних технологій ЧДТУ

У січні 2016 року захистив кандидатську дисертацію на тему «Методи і засоби контролю та підвищення надійності запам’ятовуючих пристроїв в системах критичного застосування». Рішенням спеціалізованої вченої ради НТУУ “КПІ” Д 26.002.18, присвоєно науковий ступінь кандидата технічних наук за спеціальністю 05.11.13 – ”Прилади і методи контролю та визначення складу речовин”. Науковий керівник –  д.т.н, професор Антонюк Віктор Степанович.

З вересня 2016 року на посаді доцента кафедри комп’ютерних наук та інформаційних технологій управління.

В 2019 році отримав атестат доцента кафедри

 

Виконує обов’язки відповідального за виховну роботу кафедри.


Викладає дисципліни: Основи Інтернет-речей (Internet of Things, IoT), Програмне забезпечення робототехнічних систем, Web-програмування, «Сучасні ІТ», «Організація баз даних та знань»,«Комп’ютерна графіка», «Середовища розробки програм», «Структури даних та алгоритми», «Методи і засоби комп’ютерної когнітивної графіки», «Технології розподілених систем та паралельних обчислень», «Архітектура комп’ютера ».


Кількість наукових і методичних праць – 67, з них 12 патентів на корисну модель.
Науково-педагогічний стаж –17 років.

 

ORCID ID   orcid.org/0000-0003-3316-8101


Основні науково-методичні публікації за 2012-2021 р.р.:

1.    Architecture of Built-In Self-Test and Recovery Memory Chips    Proceeding of IEEE East-West Design & Test Workshop, September14-17, 2012, Kharkov, Ukraine, P. 307-310//Moamar Diaa, Ryabtsev V.G., Utkina T.Yu.

2.    Создание виртуальной лаборатории атомно-силовой микроскопии в технологическом университете      Материалы XXIVРоссийской конференции по электронной микроскопии (РКЭМ-2012), 29 мая – 1 июня 2012 г.,  г. Черноголовка, С. 210-211    //Бондаренко М.А.,Билоконь С.А., Петлеваный П.В., Рева И.А., Бондаренко Ю.Ю.

3.    Архитектура встроенного многоверсионного самотестирования микросхем памятиРадіоелектронні і комп’ютерні системи. Харків «ХАІ», №6 (58), 2012,С. 53-57 //Рябцев В.Г., Уткіна Т.Ю.

4.    Исследование микротвердости тонких пленок методом наноиндентирования с помощью атомно-силовой микроскопии         Материалы 13-ой Международной научно-практической конференции «Качество, стандартизация, контроль: теория и практика», 30 сентября – 04 октября 2013, Крым, г. Ялта, Киев – 2013, С. 20-21    //Билоконь С.А., Бондаренко М.А., Антонюк В.С.

5.    Моделювання електростатичної взаємодії зонда атомно-силового мікроскопу з діелектричною поверхнею    Збірник наукових праць. Серія: Галузеве машинобудування, будівництво. Випуск 2 (41), Полтава, 2014 р. С. 233-237//Білокінь С.О., Антонюк В.С., Храпатий С.В.

6.    Формування функціональних наноструктур на діелектричних поверхнях термічним випаровуванням у вакуумі   Вісник Національного технічного університету України «Київський політехнічний інститут». Серія: Машинобудування, №1 (70), С. 31-35//Антонюк В.С., Храпатий С.В., Білокінь С.О.

7.    Минимизация влияния капиллярных сил при исследовании поверхностей изделий наноэлектроники в контактном режиме атомно-силового микроскопа        Сборник докладов XIМеждународной конференции «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии», 21-24 октября 2014 г., Минск, Беларусь, С. 164-168    //Билоконь С.А., Бондаренко М.А., Бондаренко Ю.Ю., Яценко И.В.

8.    Перспективи використання методу атомно-силової мікроскопії при комплексному контролі елементів приладів точного приладобудуванняПерспективні технології та прилади. Збірник наукових праць. Випуск 5 (листопад, 2014). Луцьк. С. 5-9 //Антонюк В.С., Бондаренко Ю.Ю., Бондаренко М.О., Білокінь С.О.

9.    Research of microhardness of thin ceramic coatings formed by combined electron-beam method on dielectric materials. Journal of Nano- and Electronic Physics 5, Vol.11 No.6, 06024 (5pp) (2019) (DOI: 10.21272/jnep.11(6).06024) – науково-метричне видання (Scopus) ISSN: 2077-6772

10. Саух В.М., Оксамитна Л.П., Андрієнко В.О. Інформаційно-освітнє  середовище технічного університету та інструментальні засоби і технології реалізації// Вісник ЧДТУ №2. – 2016, – С. 92- 99.

11. Саух В.М.,Крайнова Я.В, Андрієнко В.О. Інтеграція електронних і освітніх ресурсів ЧДТУ в світовий інформаційний простір// Вісник ЧДТУ№ 2. – 2017, – С. 91- 98.

12. Андрієнко В.О. Дослідження розподілу електричних полів по поверхні елементів пам‘яті / В.О.Андрієнко, О.І.Паткевич, В.С.Антонюк, М.О.Бондаренко // Перспективні технології та прилади. – Луцьк: Луцький НТУ, 2017. – Вип. 11 (2). – С. 6-12.

13. Контроль параметрів якості функціональних покриттів : монографія / В.С. Антонюк, Г.С. Тимчик, Ю.Ю. Бондаренко, С.О. Білокінь, С.П. Ральченко, В.О. Андрієнко, М.О. Бондаренко. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, Вид-во «Політехніка», 2018. – 396 с. : іл. 120; табл. 24

14. Vladyslav Tytarenko, Dmytro Tychkov, Svitlana Bilokin, Maksym Bondarenko, Volodymyr Andriienko. Development of a simulation model of an information-measuring system of electrical characteristics of the functional coatings of electronic devices. Scientific-technical union of mechanical engineering – industry 4.0 sofia, bulgaria vear IV, issue 2/2020 issn (print) 2535-0986 issn (web) 2603-2929 p. 68-71.

15. Improving the resolution and accuracy of temperature distribution on the surface of microsystems using thermographic methods / S.Matviienko, S.Ralchenko, V.Boiko, M.Bondarenko, V.Andriienko, Yu.Bondarenko // Machines. Technologies. Materials. – 2020. – Year XIV. – Issue 1. – pp.23-27.


 

Сертифікати: